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蔚華科助攻南方科技光學檢測系統 切入MicroLED、矽光子檢測領域

本文共633字

聯合報 記者簡永祥/台北即時報導

半導體測試解決方案專業品牌蔚華科(3055)朝自主開發檢測設備邁大步,今日舉旗下南方科技共同發表全球首創非破壞性缺陷檢測系統, 助攻碳化矽(SiC)基板廠提升良率,並將此技術延伸至MicroLED、超穎材料、矽光子等先進光學檢測。

蔚華科總經理楊燿州表示,蔚華科考量經銷代理的不穩定性及追求更好的獲利結構,不斷加強投資自有產品開發以求推出更貼近客戶需求的解決方案,此次透過併購南方科技,加速自有產品的發展進程,讓蔚華科從半導體封測設備跨足光學檢測,首先鎖定極具前景的化合物半導體材料缺陷檢測,對客戶、員工及投資人來說都將是非常振奮人心的新局。

楊燿州進一步指出,蔚華與南方科技自經銷合作以來就有互相壯大的默契,成立先進光學材料檢測實驗室讓獨特的光學檢測技術更快進入業界應用,透過客戶的反覆驗證,進而調整產品規格以滿足客戶需求。除了將非線性光學技術應用在本次推出的JadeSiC-NK外,未來也將加速將南方科技在MicroLED、超穎材料、矽光子等先進光學檢測技術的商業化,持續加大研發能量有效整合集團資源,發揮綜效。

光電科技工業協進會董事長邰中和則表示,非常樂見兩家台灣本土企業透過互補雙贏的結合產生綜效,更為產業創造巨大價值。蔚華科與南方科技推出的JadeSiC-NK系統是極具指標性的技術突破,不但對全球化合物半導體業來說是可以大幅降低成本並增加產能的革命性產品,更能以蔚華與南方科技為代表讓全球看見台灣的技術領導地位,在未來蓬勃發展的化合物半導體市場扮演關鍵角色。

蔚華科與旗下南方科技推出的非破壞性SiC缺陷檢測系統,鎖定應用在電動車功率元件的...
蔚華科與旗下南方科技推出的非破壞性SiC缺陷檢測系統,鎖定應用在電動車功率元件的碳化矽基板進行全片掃描,找出基板內部致命性晶體缺陷,以取代現行高成本的破壞性KOH(氫氧化鉀)蝕刻檢測方式。圖/蔚華科提供
南方科技推出的非破壞性SiC缺陷檢測系統,未來將延伸至MicroLED、超穎材料...
南方科技推出的非破壞性SiC缺陷檢測系統,未來將延伸至MicroLED、超穎材料、矽光子等先進光學檢測。圖為南方科技總經理王嘉業。記者簡永祥/攝影

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