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源台PIS-3030Z探針卡檢測維修系統 獲全球半導體大廠tsmc指定採用

本文共793字

經濟日報 吳青常

源台精密科技PIS-3030Z探針卡檢測維修系統,首創採用雷射進行探針卡的檢測,提供使用者快速、精確且全面的取得每一根針的針徑、針位、針高 (長)與整盤針的水平狀況,且能透過剖線圖模擬出針尖樣貌的變化,搭載立體顯微鏡(OM),可直接點選異常針進行維修工作,為全球半導體大廠tsmc指定採購使用。

源台精密科技PIS-3030Z探針卡檢測維修系統,首創採用雷射進行探針卡的檢測。...
源台精密科技PIS-3030Z探針卡檢測維修系統,首創採用雷射進行探針卡的檢測。 源台精密科技/提供

PIS-3030Z探針卡檢測維修系統,強大的功能在40分鐘內能完成60*50mm範圍的針卡掃描及運算(不管此範圍內的針數),堪稱領先市場可檢測PIN height的設備,單機台、雙功能,檢測速度快、快速掃描、調針,檢測完成立即調針,機台精度<1μm精度高,提供半導體產業晶圓探針卡(Probe Card)使用,可應不同探針卡種類客製,且不用改變現有半導體產業製程與習慣,可大幅簡化作業流程、節省成本,探針卡檢測、調針挑針一次到位,全自動化系統處理,PIN檢測包括:missing、broken、placement、offset、size、height等。

半導體產業針卡挑針是必要的程序之一,而每次都需要做完整量測,需花費固定的時間,針卡挑針更需要有經驗的工作人員目視臆測針卡位置,調整完針卡後,要再做一次完整的量測作業,不僅費時、費工、成本高,而且進口機台價格昂貴。

快速、精確的製程,攸關半導體產業全球競爭力,源台精密研製探針卡檢測維修系統,除第一次需作完整的量測,後續只要再確認針卡偏移的部分,可有效大幅減少量測時間,顯微鏡中心點即為針卡之正確位置,清楚呈現針卡偏移的方位,挑針不用再臆測。挑針完畢後,只要確認先前偏移針卡的位置,無需再作完整的量測,快速、精確可大幅節省作業時間。

半導體產業為台灣主要的經濟指標,當設計製作好的晶圓,為了測試其功能的正確性以及準確性,必須經過一測試階段的電性測試,而電性測試的重要元件,就是所謂的探針卡Probe Card。

探針卡上有許多的探針,用以接觸晶圓上的測試點位,以進行電性的測試,在重覆使用的過程當中,探針卡上的測試探針會有歪斜或是彎曲的現象,一片探針卡價值不斐,為了延長探針卡的使用壽命,使用手動調針機將有問題的探針位置修正,事實上,最大困難點在於有如大海撈針一樣,需花費大量「盲目找針」時間,及檢察、調整,一來一回的時間。

源台精密將「找針」作業以精密的定位達成,將檢測機與挑針機結合,透過精密定位,檢察錯誤的位置直接可以傳送到調針機的視野下方,調針人員可直接在視野下進行調整,無需反覆尋找針的位置。調整後,可以傳遞到檢察機下進行檢測,省時省人力。

在檢測機的部份,源台的專精在非接觸式影像量測設備,量測儀器與Probe Card調針機「二機一體」的完美結合、高CP值,並在節省成本、簡化作業以及人體工學設計,該機通過第三方CE測試(TCF NO: ARCS-2014001-A1),使用軟硬體三元極限裝置,透過軟體、極限開關、鈑金護蓋以及止擋三重防護機制,具高安全性、並為客戶創造高附加價值。

源台精密商標設計「ARCS」中的首字A為Accuracy(準確)  、R 為...
源台精密商標設計「ARCS」中的首字A為Accuracy(準確) 、R 為Reli-ability(可靠)、C為Creation(創新)、S為 Satisfactions(滿意)。 源台精密/提供

源台精密秉持「台灣第一、世界一流」的經營理念,深耕CNC非接觸式影像量測儀領域技術,是台灣唯一通過大行程影像量測儀與投影儀TAF認證之二級校正實驗室,也是台灣中部唯一通過投影儀CNLA認證,且符合ISO/IEC17025之二級實驗室驗證,堪稱全球高階非接觸式影像量測儀器研製的指標性大廠。

源台精密科技PIS-3030Z探針卡檢測維修系統配合SEMICON Taiwan(台北南港展覽館、9/6~8日、攤位:N0686)展出,歡迎參觀。

源台精密電話(04)768-8067,

http://www.arcs.tw

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